Skip navigation
BelSU DSpace logo

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://dspace.bsuedu.ru/handle/123456789/65383
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorSyshchenko, V.V.-
dc.contributor.authorTarnovsky, A.I.-
dc.contributor.authorDronik, V.I.-
dc.date.accessioned2025-08-28T12:44:11Z-
dc.date.available2025-08-28T12:44:11Z-
dc.date.issued2024-
dc.identifier.citationSyshchenko V.V. On anomalous diffusion of fast electrons through the silicon crystal / V.V. Syshchenko, A.I. Tarnovsky, V.I. Dronik // Journal of Surface Investigation: X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques. - 2024. - Vol.18, №5.-P. 1094-1099. - Doi: 10.1134/S1027451024700873. - Refer.: p. 1098-1099.ru
dc.identifier.urihttp://dspace.bsuedu.ru/handle/123456789/65383-
dc.description.abstractIn this work, the anomalous diffusion exponent has been found by numerical simulation for different values of the energy of electron transverse motion in the (100) plane of a silicon crystalru
dc.language.isoenru
dc.subjectphysicsru
dc.subjectsolid state physicsru
dc.subjectchannelingru
dc.subjectsiliconru
dc.subjectnumerical simulationru
dc.subjectanomalous diffusionru
dc.subjectfast electronsru
dc.titleOn anomalous diffusion of fast electrons through the silicon crystalru
dc.typeArticleru
Располагается в коллекциях:Статьи из периодических изданий и сборников (на иностранных языках) = Articles from periodicals and collections (in foreign languages)

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
Syshchenko_On anomalous_24.pdf733.72 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Просмотр статистики


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.