Skip navigation
BelSU DSpace logo

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://dspace.bsuedu.ru/handle/123456789/45293
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorSyshchenko, V. V.-
dc.contributor.authorTarnovsky, A. I.-
dc.date.accessioned2022-02-04T12:37:51Z-
dc.date.available2022-02-04T12:37:51Z-
dc.date.issued2021-
dc.identifier.citationSyshchenko, V.V. Statistical properties of the transverse-motion energy levels for channeling electrons in a silicon crystal under dynamical chaos conditions / V.V. Syshchenko, A.I. Tarnovsky // Journal of surface investigation: X-ray, synchrotron and neutron techniques. - 2021. - Vol.15, №4.- P. 728-731.ru
dc.identifier.urihttp://dspace.bsu.edu.ru/handle/123456789/45293-
dc.description.abstractThis paper studies the calculated energy levels of the transverse motion of relativistic electrons in the axial-channeling regime along the [100] direction of the silicon crystal which is described as motion in the smooth potential well. The nearest-level spacing distributions as well as the spectral rigidity are studied for the range of parameters where electron motion is chaotic within the classical limit. Both these characteristics demonstrate agreement with quantum-chaos-theory predictionsru
dc.language.isoenru
dc.subjectmechanicsru
dc.subjectdynamicsru
dc.subjectchaotic dynamicsru
dc.subjectquantum chaosru
dc.subjectchannelingru
dc.subjectenergy levelsru
dc.subjectnearest-neighbor spacing distributionru
dc.subjectWigner distributionru
dc.subjectspectral rigidityru
dc.titleStatistical properties of the transverse-motion energy levels for channeling electrons in a silicon crystal under dynamical chaos conditionsru
dc.typeArticleru
Располагается в коллекциях:Статьи из периодических изданий и сборников (на иностранных языках) = Articles from periodicals and collections (in foreign languages)

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
Tarnovsky_Statistical.pdf415.11 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Просмотр статистики


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.